近年の材料開発には、微小な領域から材料全体まで、様々な情報取得が必要不可欠です。そのため、分析・評価技術も常に進歩し続けなければ、最先端の素材を生み出すことはできません。
基礎評価研究所は、分析・評価技術に特化したコーポレートラボとして、全社のものづくりと製品開発を支える役割を担っています。
私たちはこれからも新しい素材の機能と特性を明らかにするための技術を磨き続け、三井金属グループの現在と未来をしっかりと支えていきます。
分析装置の一例：FE-STEM 高い分解能で物質の形状や構造、組成、電子状態を解明することができる。
ICP(高周波誘導結合プラズマ)-OESは、プラズマ中に溶液試料を導入し、励起･発光した各元素の発光強度を測定し、含有量を求める装置です。また、ICP-MSは、イオン化した試料を質量ごとに分離しイオン数を測定し, その含有量を求める装置です。 基礎評価研究所では、元素の含有量や物性を加味し、装置を使い分け、より正確な分析値を提供することにより、全社の研究・開発に貢献しています。 基礎評価研究所における分析例 ICP-OES：原料、製品中の金属元素の定性分析、定量分析 ICP-MS：原料、製品中の超微量元素分析
XRF(蛍光X線分析装置)は、X線管球から発生する連続X線を試料に照射し, 試料中に含まれる元素から発生する二次X線の固有(特性)X線を測定する装置です。迅速かつ非破壊分析が可能な装置であるため、基礎評価研究所だけでなく、三井金属の各拠点でも有害元素のスクリーニングや工程管理に使われています。 基礎評価研究所における分析例 ・製品中の貴金属定量分析 ・原料、製品の定性分析
ガス分析装置は、固体試料を高温で加熱し、ガス化した元素(O、N、C、S)を赤外線検出器や熱伝導度検出器で測定する装置です。 基礎評価研究所では、2種類のガス分析装置を使用しており、製品や開発品の酸化度合いやコンタミネーションの把握に活用されています。 基礎評価研究所における分析例 ・製品、開発品の定量分析
FT-IRは、試料に赤外光を照射し、透過もしくは反射した光量を測定する装置です。化合物の部分的な構造を推測することができます。 基礎評価研究所では、様々な測定手法を駆使することで、試料の特性に応じた測定が可能です。そのため、異物解析や材料特性評価のファーストステップとして大活躍しています。 基礎評価研究所における分析例 ・金属表面の有機物、異物の構造解析や定性分析
顕微Raman分光は、試料にレーザーを照射し、発生したラマン散乱光を測定する装置です。試料の分子構造同定や結晶性を評価することができます。非接触かつ非破壊で、固体（金属除く）、液体、気体の測定が可能です。 基礎評価研究所では、非晶質材料の結晶性評価やミクロンサイズの微小異物に対する構造特定などに活用しています。 基礎評価研究所における分析例 ・非晶質材料、有機物、微小異物の構造解析や定性分析
GCは、液体や気体に含まれる成分を気化させ、カラムで分離し、様々な検出器を用いて成分の定性や定量を行う装置です。無機ガスや有機成分など、幅広い種類の成分を測定することができます。 検出器に質量分析計（MS）を用いることで、成分の組成式を推測することができます。 幅広い種類の成分を測定可能であるため、基礎評価研究所だけでなく、三井金属の各拠点でも工程管理や規制物質の評価に使われています。 基礎評価研究所における分析例 ・金属表面の有機物の定性分析 ・工程中発生ガスの定性分析 ・規制物質の定性と定量分析
LCは、液体サンプルをカラムで分離し、様々な検出器を用いて成分の定性・定量を行う装置です。固体サンプルでも、抽出などの前処理を行うことによって測定が可能です。検出器に質量分析計（MS）を用いることで、成分の組成式を推測することができます。 基礎評価研究所では、主に試料中の有機成分を分析する際に使用します。また、幅広い種類の成分を測定可能であるため、基礎評価研究所だけでなく、三井金属の各拠点でも工程管理や規制物質の評価に使われています。 基礎評価研究所における分析例 ・工程液中の添加剤の定量分析 ・製品表面の有機物の定性分析
NMRは、ラジオまたはテレビで用いられる波長の電波を磁場中の試料に照射したときに試料中の特定の元素から出る微弱な電波を検出し、その元素周辺の情報（化学形態、分子運動、拡散など）を得るための装置です。元素を選択できるため、物質に含まれる不純物の元素周辺の構造解析も可能です。また、液体、液晶、単結晶、微結晶、非晶質粉末など様々な状態の物質にも対応しています。 基礎評価研究所では，溶液中の有機物から固体材料の化学形態解析まで、幅広い分野の材料に対して測定しており、機能発現のメカニズム解明などに貢献しています。 基礎評価研究所における分析例 ・触媒活性点周辺の構造解析 ・有機物の同定
FE-STEMは、高い分解能で物質の形状や結晶構造を観察・評価できる装置です。また高性能なEDSやEELSを搭載しているので、元素分布、組成、電子状態も解明できます。基礎評価研究所で所有しているFE-STEMは、サブオングストロームの空間分解能を持ち、原子レベルの観察・解析が可能となっております。 基礎評価研究所では、主に試料の形状や組成分布、結晶構造解析、化学状態解析などを行うことで、日夜開発される新規材料の物性を評価しています。 基礎評価研究所における分析例 ・形状・形態の観察、微粒子の三次元分布評価 ・寸法評価（薄膜厚さ、粒子寸法等） ・結晶性評価（結晶粒サイズ、配向性、結晶構造同定） ・異物・欠陥評価（形態観察、元素分析、応力・歪評価） ・物性評価（試料の電子状態、化学結合状態の測定）
PESは、固体にX線や紫外線を照射し、光電効果によって外に飛び出した電子の運動エネルギー分布を測定し、固体の電子状態を調べる装置です。この装置では、試料表面の数nm～30nm程度の深さに存在する元素の種類や存在量、化学結合状態を評価できます。またArイオンを用いたイオンミリングによって最表面からの深さ方向分布を測定することも可能です。 基礎評価研究所では、複数のエネルギーを有するＸ線（XPS，HAXPES）や紫外線（UPS）を用いて、試料の元素種や価数、結合状態評価などから機能発現メカニズムを明らかにし、新規材料の開発を支援しています。 基礎評価研究所における分析例 ・試料表面の化学形態・生成物解析析 ・試料の深さ方向の元素・化学状態情報取得 ・大気非暴露制御下での試料導入・評価
XRDは、試料に一定波長のX線を照射した際、物質の原子・分子の配列状態によって散乱・干渉した結果起こる回折現象を用いて、原子・分子の周期構造を解析する装置です。 測定できる試料は多岐にわたり、かつ結晶構造や化合物の同定、ナノ粒子サイズの解析など多くの情報を得ることができるため、新規の材料開発には不可欠な評価手法として日々活躍しています。 基礎評価研究所では、複数の仕様のXRDを所有・稼働させており、多岐にわたる評価手法を用いて、多種多様な可新規開発や課題解決に貢献しています。 基礎評価研究所における分析例 ・試料の結晶構造解析（相の同定、定量） ・試料の結晶性・配向性の評価 ・歪量・応力の評価 ・室温から1500℃までの構造変化（In-situ）評価 ・膜試料の密度・厚さ測定（XRR） ・数nm～数十nm程度の構造（大きさ、形状）評価（SAXS）
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